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首頁 SEM-EDX顆粒物分析儀

SEM-EDX顆粒物分析儀

顆粒和鋼夾雜物的快速分析

Explorer 4分析儀

  Aspex Explorer是第四代分析系統(tǒng),主要用于顆粒物分析。該儀器能自動計數(shù)和測量顆粒,并識別材料類型。

Explorer 4非常適合于汽車零部件的清潔度的測試,檢測會造成零件損傷的污染物。

技術參數(shù)

  最小可檢測0.5微米的小顆粒。

  擁有SE和QuadBE探測器

  電壓適用范圍廣,適用于5 - 20 kV高壓。

  無氮SDD-EDX, 25 mm2 137 eV

  高真空、低壓可調(diào)

  采用外插式樣品室

  樣品容量XYZ 100 x 100 x 35 mm

  Windows-PC, Perception Suite 2軟件

  集成清潔和金屬質(zhì)量分析儀

  新型的Explorer 4 分析系統(tǒng)全面集成了顯微成像和元素分析的系統(tǒng)。是工業(yè)實驗室用于顆粒分析和質(zhì)量控制的理想設備。